FISCHERSCOPE^?-X-RAY XDLM237 XDLM-C4是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x射線光譜儀。尤其適合無(wú)損測(cè)量薄鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。為了使每次測(cè)量都能在最優(yōu)的條件下進(jìn)行，儀器配備了可電動(dòng)調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)直器及基本濾片。

由于采用了基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。最多可同時(shí)測(cè)量從氯（17）到鈾（92）中的24種元素。

 XDLM237與XDLM-C4型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDLM237與XDLM-C4型X射線光譜儀專(zhuān)門(mén)是為測(cè)量分析極薄鍍層和超小含量而設(shè)計(jì)。儀器配備高速可編程 X/Y平臺(tái)，它是用于質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控最合適的測(cè)量?jī)x器。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

·           測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件

·           測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層

·           測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

·           全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板

設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237與XDLM-C4設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。他們都有可電調(diào)的Z軸升降系統(tǒng)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的X/Y工作臺(tái)，當(dāng)保護(hù)門(mén)開(kāi)啟時(shí)，工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以精確定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。位置的精確微調(diào)可以通過(guò)搖桿，或通過(guò)操作鼠標(biāo)和鍵盤(pán)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

所有的操作，測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算，以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過(guò)強(qiáng)大而界面友好的WinFTM^?軟件在電腦上完成的。

XDLM237與XDLM-C4型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測(cè)量?jī)x器，型式許可符合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來(lái)測(cè)量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。

元素范圍

最多同時(shí)測(cè)量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24種元素

設(shè)計(jì)理念

臺(tái)式儀器，測(cè)量門(mén)向上開(kāi)啟

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(diǎn)定位測(cè)量點(diǎn)

Z軸電調(diào)，可編程

配備可編程的電調(diào)X/Y平臺(tái)

測(cè)量方向

從上到下

X射線源

X射線源

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調(diào)整

孔徑（準(zhǔn)直器）

4個(gè)可切換準(zhǔn)直器：圓形? 0.1 mm； ? 0.2 mm；? 0.3 mm；方形0.05 mm x 0.05 mm。  (可按要求定制其它規(guī)格)

基本濾片

3種可更改的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無(wú)）

測(cè)量點(diǎn)

取決于測(cè)量距離及使用的準(zhǔn)直器大小

實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致

最小的測(cè)量點(diǎn)大小約? 0.15    mm.

測(cè)量距離，如測(cè)量腔體內(nèi)部

0  ~  80 mm，未校準(zhǔn)范圍，使用專(zhuān)利保護(hù)的DCM功能

0  ~  20 mm，已校準(zhǔn)范圍，使用專(zhuān)利保護(hù)的DCM功能

X射線探測(cè)

X射線接收器

比例接收器

樣品定位

視頻顯示系統(tǒng)

高分辨 CCD彩色攝像頭，用于查看測(cè)量位置

手動(dòng)調(diào)焦或自動(dòng)聚焦

帶刻度的十字線及測(cè)量點(diǎn)指示

測(cè)量區(qū)域照明亮度可調(diào)

激光點(diǎn)用于精確定位樣品

放大倍數(shù)

20x   ~  180x   (光學(xué)變焦: 20x  ~  45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

樣品臺(tái)

XDLM 237

設(shè)計(jì)

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程X/Y平臺(tái)

最大移動(dòng)范圍

255 x 235 mm

X/Y平臺(tái)移動(dòng)速度

≤ 80 mm/s

X/Y平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度

≤ 0.01 mm (單向)

Z軸移動(dòng)范圍

140 mm

可用樣品放置區(qū)域

300 x 350 mm

樣品最大重量

5 kg，降低精度可達(dá)20kg

樣品最大高度

140 mm

電壓，頻率

AC 115 V 或 AC 230 V    50 / 60 Hz

功率

最大 120 W (不包括計(jì)算機(jī))

保護(hù)等級(jí)

IP40

儀器規(guī)格

外部尺寸

寬x深x高[mm]：570 x 760 x 650

重量

約 120 kg

內(nèi)部測(cè)量室尺寸

寬x深x高[mm]: 460 x 495 x 146

環(huán)境要求

操作溫度

10°C – 40°C   / 50°F – 104°F

儲(chǔ)藏或運(yùn)輸溫度

0°C – 50°C   / 32°F – 122°F

空氣濕度

≤ 95 %，無(wú)結(jié)露

計(jì)算系統(tǒng)

計(jì)算機(jī)

帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

軟件

菲希爾WinFTM^?軟件

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

CE合格標(biāo)準(zhǔn)

EN 61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 3497和 ASTM B 568

型式許可

安全而保護(hù)全面的測(cè)量?jī)x器，型式許可符合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。

訂貨號(hào)

FISCHERSCOPE X-RAY   XDLM 237

聯(lián)系人：陳生    13609629785