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膜厚儀的影響因素有哪些

2018-03-29handler2715

1、基體金屬磁性質(zhì)

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。

2、基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。

3、基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。

4、邊緣效應(yīng)

本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

5、曲率

試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

6、試件的變形

測量頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

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