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XDVM-P? ?? ?XDVM--μ

2018-04-10handler1508

XDVM-P? ?? ?XDVM--μ

XDVM-P? ?? ?XDVM--μ

簡介

 

 

 

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-μ是一款應用廣泛的能量色散型x射線光譜儀。它特別適用于無損分析和測量十分微小部件機構上鍍層的厚度,即使是復雜的鍍層結構,也同樣應付自如。

 

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于有了開創(chuàng)性的x射線光學反射系統(tǒng)設計,本款儀器能在十分微小的測量面積上產生非常高的激發(fā)強度。

 

XDVM-μ型x射線光譜儀有著出色的長期穩(wěn)定性,如此一來,就能大幅減少校準儀器所需花費的精力。

 

由于使用了基本參數(shù)法,無論是固體的鍍層系統(tǒng)還是液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。最多可同時測量24種元素。

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-μ光譜儀裝備了高精度,可編程的X/Y平臺和電力驅動的Z軸升降臺,因而十分適用于自動測量。使用高分辨的彩色視頻鏡頭可精確定位被測量點。

 

XDVM-μ-SD一款用來測量和分析超薄鍍層的儀器。由于有可編程的X/Y平臺以及輔助快速加載樣品的Y軸平臺(舌狀進樣功能),它十分適合于自動測量樣品。

 

典型的應用領域有::

·          測量十分微小的部件結構,如印制線路板、接插件或引線框架等

·          分析超薄鍍層, 如,≤ 0.1 μm的Au和Pd鍍層

·          測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

·          分析復雜的多鍍層系統(tǒng)

·          全自動測量,如在質量控制領域

 

 

 

 

設計理念

 

 

 

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-μ是一款界面友好的臺式測量儀器。

 

當外保護面罩開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光光點,可以快速對準需要測量的區(qū)域。

 

整個測量過程,包括測量結果的統(tǒng)計評估以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰輸出都可以通過高性能且界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。

 

XDVM-μ光譜儀,型式許可符合德國”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的,是有完善防護措施的測量儀器。


 
 

通用規(guī)范



用途


能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ,用來測量極微小結構上的薄鍍層及鍍層結構

可測量元素范圍


最多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24種元素

設計理念


臺式儀器,測量門向上開啟,側面開槽設計
  電動可編程的X/Y平臺和 Z軸升降臺
  馬達驅動,可切換的準直器和基本濾片

樣品攝像頭及定位樣品的激光光點

測量方向


從上往下





 
 

X射線源



X射線源


微聚焦鎢靶;可選配置為微聚焦鉬靶

高壓


三種可切換的高壓30 kV, 40 kV, 50 kV

基本濾波片


固定一種

測量點大小


大約為20 μm x 50 μm





 
 

X射線的接收探測



X射線接收器


比例計數(shù)器




樣品定位



視頻顯微鏡


高分辨 CCD彩色攝像頭,用于查看測量位置
  十字線刻度和測量點大小經(jīng)過校準

測量區(qū)域的LED照明亮度可調

激光光點用于精確定位樣品

放大倍數(shù)


最高達到1080x (光學變焦: 30x, 90x, 270x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

聚焦


自動或手動聚焦功能




樣品臺


快速,可編程的X/Y載物平臺及輔助Y軸平臺(舌狀進樣功能)

最大移動距離


X/Y方向:250 mm x 250 mm;Z軸:140 mm

X/Y平臺最快移動速度


25 mm/s

X/Y/Z移動重復精度


≤ 0.005 mm(單向)

可用樣品平臺面積


x深: 370 mm x 320 mm

樣品最大重量


5 kg,降低移動精度,可以達到20kg

樣品最大高度


145 mm


 

電氣參數(shù)



線電壓,頻率


AC 115 V AC 230 V    50 / 60 Hz

能耗


最大為 120 W

保護等級


IP40




尺寸大小



外部尺寸


xx[mm]660 x 835 x 720

重量


大約為 135 kg

內部測量艙尺寸


xx[mm] 580 x 560 x 145




環(huán)境條件要求



溫度:測量時


20 °C – 25 °C /   68 °F – 77 °F

溫度:存儲或運輸時


0 °C – 50 °C / 32   °F – 122 °F

空氣相對濕度


≤ 95 %,無結露




計算單元



計算機


帶擴展卡的個人計算機系統(tǒng)

軟件


標配:Fischer WinFTM?   BASIC + PDM?



選配:Fischer WinFTM?   SUPER




執(zhí)行標準



CE合格標準


EN 61010

X射線標準


DIN ISO 3497 ASTM B 568

批準


型式許可符合德國”Deutsche   R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的有完善防護措施的測量儀器。




訂購號



FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-μ


聯(lián)系人:陳生    13609629785



可按要求,提供額外的XDVM型產品更改和XDVM型儀器技術咨詢

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